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  • 三維云紋干涉儀

    三維云紋干涉儀：該設備用于測量試件在機械或熱載荷作用下的三維熱機械變形場（面內的U,V場和離面的W場）。在電子封裝領域，該設備是重要的失效分析手段。

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    廠商性質：生產廠家
    產地：香港特別行政區(qū)
  • ANA6000P-H臥式光彈系數測試儀

    臥式光彈系數測試儀(ANA6000P-H)是應用偏振光干涉原理對應力作用下能產生人工雙折射材料做成的力學構件模型進行實驗應力測試的儀器，簡稱光彈儀。應用它可以通過模型在實驗室內進行大型建筑構件、水壩壩體、重型機械部件的應力和應力分布的測試，并可以在模型上直接看到被測件的全部應力分布和應力集中情況。

    訪問量：1890
    廠商性質：生產廠家
    產地：北京市
  • ANA6000P-V立式光彈測試儀

    立式光彈測試儀：光彈系數測試儀(ANA6000P-V)是應用偏振光干涉原理對應力作用下能產生人工雙折射材料做成的力學構件模型進行實驗應力測試的儀器，簡稱光彈儀。應用它可以測試 SiC晶圓、手機膜、顯示屏、石英玻璃等器件內部的應力雙折射/殘余應力，以圖像形式直觀觀察被測件的應力分布和應力集中情況。

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    廠商性質：生產廠家
    產地：北京市
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